Semiconductor thin films: Deposition methods and applications

Gözükızıl M. F., Nayman E., Temel S., Gökmen F. Ö.

SIGMA JOURNAL OF ENGINEERING AND NATURAL SCIENCES, cilt.44, sa.3, ss.2263-2285, 2026 (ESCI, Scopus)

  • Yayın Türü: Makale / Derleme
  • Cilt numarası: 44 Sayı: 3
  • Basım Tarihi: 2026
  • Doi Numarası: 10.14744/sigma.2026.2094
  • Dergi Adı: SIGMA JOURNAL OF ENGINEERING AND NATURAL SCIENCES
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Academic Search Ultimate (EBSCO), Engineering Source (EBSCO), Scopus, Emerging Sources Citation Index (ESCI), Directory of Open Access Journals
  • Sayfa Sayıları: ss.2263-2285
  • Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Adresli: Evet