The Effect of Pressure on the Microstructural Behavior on SnO2 Thin Films Deposited by RF Sputtering
ASME 2. Annual Multifunctional NanocompositesNanomaterials: International ConferenceExhibition, 11 - 13 Ocak 2008, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Doi Numarası: 10.1115/mn2008-47071
- Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Adresli: Hayır