The Effect of Pressure on the Microstructural Behavior on SnO2 Thin Films Deposited by RF Sputtering

GÜLER M. O., ALAF M., ALP A., AKBULUT H.

ASME 2. Annual Multifunctional NanocompositesNanomaterials: International ConferenceExhibition, 11 - 13 Ocak 2008 identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1115/mn2008-47071
  • Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Adresli: Hayır