A New Classification Approach with Deep Mask R-CNN for Synthetic Aperture Radar Image Segmentation

YAYLA R., ŞEN B.

24th International Conference ELECTRONICS 2020, Palang, Bangladeş, 15 - 17 Haziran 2020, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Palang
  • Basıldığı Ülke: Bangladeş
  • Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Adresli: Hayır