Characterization Antimony and Fluorine Doped Tin Oxide Thin Films With XRD SEM and FTIR Dependent On Substrate Temperatures | AVESİS

Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Akademik Veri Yönetim Sistemi

Characterization Antimony and Fluorine Doped Tin Oxide Thin Films With XRD SEM and FTIR Dependent On Substrate Temperatures

Atıf İçin Kopyala

BATTAL A., TATAR D., KOÇYİĞİT A., SÖNMEZ E.

International Semiconductor Science and Technology Conference, 13 - 15 Ocak 2014

Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Adresli: Hayır