Effect of different thickness insulator layer on dielectric properties of Al/Si3N4/p-type Si device
12th International Nanoscience and Nanotechnology Conference, 3 - 05 Haziran 2016, (Özet Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
- Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Adresli: Hayır