Effect of different thickness insulator layer on dielectric properties of Al/Si3N4/p-type Si device

ORAK İ., KOÇYİĞİT A.

12th International Nanoscience and Nanotechnology Conference, 3 - 05 Haziran 2016

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Adresli: Hayır