The thickness effect of insulator layer between the semiconductor and metal contact on C-V characteristics of Al/Si3N4/p-Si device
PAMUKKALE UNIVERSITY JOURNAL OF ENGINEERING SCIENCES-PAMUKKALE UNIVERSITESI MUHENDISLIK BILIMLERI DERGISI, cilt.23, sa.5, ss.536-542, 2017 (TRDizin)
- Yayın Türü: Makale / Tam Makale
- Cilt numarası: 23 Sayı: 5
- Basım Tarihi: 2017
- Doi Numarası: 10.5505/pajes.2016.23911
- Dergi Adı: PAMUKKALE UNIVERSITY JOURNAL OF ENGINEERING SCIENCES-PAMUKKALE UNIVERSITESI MUHENDISLIK BILIMLERI DERGISI
- Derginin Tarandığı İndeksler: TR DİZİN (ULAKBİM)
- Sayfa Sayıları: ss.536-542
- Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Adresli: Hayır