The thickness effect of insulator layer between the semiconductor and metal contact on C-V characteristics of Al/Si3N4/p-Si device

ORAK İ., KOÇYİĞİT A.

PAMUKKALE UNIVERSITY JOURNAL OF ENGINEERING SCIENCES-PAMUKKALE UNIVERSITESI MUHENDISLIK BILIMLERI DERGISI, cilt.23, sa.5, ss.536-542, 2017 (Hakemli Dergi)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 23 Sayı: 5
• Basım Tarihi: 2017
• Doi Numarası: 10.5505/pajes.2016.23911
• Dergi Adı: PAMUKKALE UNIVERSITY JOURNAL OF ENGINEERING SCIENCES-PAMUKKALE UNIVERSITESI MUHENDISLIK BILIMLERI DERGISI
• Derginin Tarandığı İndeksler: TR DİZİN (ULAKBİM)
• Sayfa Sayıları: ss.536-542
• Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Adresli: Hayır