The Dielectric Characterization of the SiO2-MWCNT between the metal and semiconductor

Creative Commons License

Orak I., Koçyiğit A.

International Conference on Innovative Engineering Applications, Sivas, Türkiye, 20 - 22 Eylül 2018, ss.341-346, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Sivas
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.341-346
  • Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
  • Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Adresli: Hayır